MMAS-25半导体硅晶片倒置微分干涉金相显微镜分析系统采用优良的无限远光学系统，可提供出色的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性，可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基板、固体粉未及其它工业试样的显微观察，是材料学、精密电子工程学等领域研究的理想仪器。