MMAS-23集成电路微分干涉DIC金相显微镜分析系统适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察,DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。 MMAS-23系统配备了研润自主研发的MMAS测量分析系统以及MOS高端光学系统。